產(chǎn)品目錄
聯(lián)系方式
聯(lián)系人：朱經(jīng)理
手機(jī)：15921165535
電話：86-021-58951071
傳真：86-021-50473901
地址：上海市浦東外高橋自貿(mào)區(qū)富特東三路526號(hào)5號(hào)樓311室
郵箱：814294500@qq.com
產(chǎn)品中心
| 品牌 | Helmut Fischer/德國菲希爾 | 價(jià)格區(qū)間 | 面議 |
|---|---|---|---|
| 產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 化工,電子/電池,道路/軌道/船舶,航空航天,汽車及零部件 |
菲希爾鍍層厚度檢測設(shè)備
 |  |
| 小巧、便攜、耐用： FISCHER公司推出的MP0和 MP0R系列無損測厚儀可以快速、準(zhǔn)確地測量涂鍍 層的厚度，滿足客戶對(duì)于FISCHER一貫的精度等 級(jí)的期待。它裝有兩塊背光式LCD顯示屏和高耐 磨探頭，再配合其輕巧的外形，是您現(xiàn)場測量的 *選擇。樣品的幾何特性和磁導(dǎo)率對(duì)測量的影 響非常小。另外，儀器還采用了**的非磁性基 材電導(dǎo)率補(bǔ)償技術(shù)，即使是面對(duì)超薄的鍍層，無 論樣品表面光滑還是粗糙，它都能準(zhǔn)確地測量。 儀器采用磁感應(yīng)法(PERMASCOPE儀器只能在鐵 磁性基材上使用)；電渦流法(ISOSCOPE 可以 在非鐵磁性材料上使用)以及集成兩種方法于一 體的兩用法(DUALSCOPE)： DUALSCOPE儀器 可以自動(dòng)識(shí)別鋁基材和鐵基材并選擇相應(yīng)的方法 進(jìn)行測量。 PERMASCOPE® MP0 帶有一個(gè)集成探頭，適用 于測量鐵基材上的涂鍍層厚度。 DUALSCOPE® MP0 帶有一個(gè)集成探頭，適用于 測量幾乎所有金屬基材上的涂鍍層厚度。 | 為了擴(kuò)大MP0系列儀器的應(yīng)用范圍， MP0R型儀器 內(nèi)置了10,000個(gè)數(shù)據(jù)的儲(chǔ)存功能，并定制了符合 IMO PSPC 和 SSPC-PA2 規(guī)則的防腐層的特殊測量 模式。通過 USB 端口，儀器可以與電腦相連并利 用 FISCHER DataCenter 軟件輕松地對(duì)測量數(shù)據(jù)進(jìn) 行統(tǒng)計(jì)和記錄。 FP 型儀器固定在機(jī)身上的延長型 探頭可以簡便而準(zhǔn)確地在不便觸及的區(qū)域以及外 形復(fù)雜的樣品上進(jìn)行測量。 PERMASCOPE® MP0R 和 MP0R-FP 帶有一個(gè)集 成探頭或一個(gè)延長型探頭，適用于測量鐵基材上 的涂鍍層厚度。 DUALSCOPE® MP0R 和 MP0R-FP 帶有一個(gè)集成 探頭或一個(gè)延長型探頭，適用于測量幾乎所有金 屬基材上的涂鍍層厚度。 ISOSCOPE® MP0R 帶有一個(gè)集成探頭，專為高精 度測量幾乎所有非鐵基材上的較薄涂層而設(shè)計(jì)。 DUALSCOPE® MP0RH-FP 帶有一個(gè)延長型探頭， 專為高精度測量幾乎所有非鐵基材上的較厚涂層 而設(shè)計(jì)。 |
 |  |  |
手持式FMP系列儀器是基于磁感應(yīng)法(DELTACOPE)、 電渦流法(ISOSCOPE)和兩用方法(DUALSCOPE)，并采用了可更換探頭的設(shè)計(jì)，非常適用于對(duì)涂鍍層進(jìn)行無損測量。儀器的模塊化設(shè)計(jì)，可供客戶根據(jù)不同的測量需求選配不同的測量系統(tǒng)。除了眾多的測厚儀機(jī)型之外， FISCHER公司還向客戶提供大量不同功能的高精度探頭。
DELTASCOPE® FMP10 和 FMP30 機(jī)型適用于測量鐵基體上的涂鍍層厚度。ISOSCOPE® FMP10 和 FMP30 機(jī)型是專為高精度測量非鐵金屬上的超薄涂鍍層厚度而設(shè)計(jì)的。DUALSCOPE® FMP20 和 FMP40 機(jī)型可以測量幾乎所有金屬底材上的涂鍍層厚度。
歡迎來到篤摯儀器（上海）有限公司網(wǎng)站,我司主要經(jīng)營儀器儀表,超聲波探傷儀,磁粉探傷儀,超聲波測厚儀,涂層測厚儀,表面粗糙度儀,里氏硬度計(jì)。我們公司主要供應(yīng)儀器儀表 量具/量儀 粗糙度儀 等產(chǎn)品，我們的產(chǎn)品貨真價(jià)實(shí)，性能可靠，歡迎留言或電詢！
篤摯儀器（上海）有限公司主營檢測儀器設(shè)備有：
==>>德國菲希爾 Helmut FISCHER X射線鍍層測厚儀、便攜式涂鍍層測厚儀；
==>>英國泰勒-霍普森TaylorHobson粗糙度儀、輪廓儀、圓度儀、圓柱儀、光學(xué)三維形貌測量儀；
==>>德國馬爾mahr表面粗糙度儀、高度測量儀、千分尺、卡尺；
==>>德國EPK（Elektrophysik）手持式涂覆層測厚儀；
==>>德國艾達(dá)米克霍梅爾HOMMEL 便攜式粗糙度儀；
==>>美國API XD系列激光干涉儀；
==>>美國GE無損檢測超聲波探傷儀、超聲波測厚儀；
==>>日本三豐Mitutoyo量具、粗糙度儀、測高儀、千分尺、卡尺；
==>>英國雷尼紹Renishaw三坐標(biāo)測量機(jī)測頭測針、機(jī)床測頭、位置編碼器、光柵、激光尺；
==>>德國Fraunhofer－IZFP無損檢測技術(shù)研究所 淬火層厚度無損測量系統(tǒng)；
==>>美國FLIR熱成像系統(tǒng)、夜視系統(tǒng)、紅外熱像儀、紅外探測器；
==>>美國奧林巴斯Olympus超聲波測厚儀、超聲波探傷儀、渦流探傷儀、XRF金屬分析儀；
==>>TRIMOS測長儀、測高儀、萬能測長機(jī)；
==>>杭州思看科技三維掃描儀.
